Atomkraftmikroskop
I dagens verden har Atomkraftmikroskop blitt et tema med stor relevans og interesse for et bredt spekter av samfunnet. Siden oppdagelsen og frem til i dag har Atomkraftmikroskop vært gjenstand for debatt, studier og forskning på ulike felt, noe som har bidratt til å utvide vår kunnskap om dette fenomenet. I denne artikkelen vil vi fordype oss i den spennende verdenen til Atomkraftmikroskop, utforske dens opprinnelse, dens innvirkning på samfunnet og mulige fremtidige implikasjoner. Det er ingen tvil om at Atomkraftmikroskop har satt et uutslettelig preg på historien og vil fortsette å være gjenstand for studier og ettertanke i årene som kommer.
 | Kildeløs: Denne artikkelen mangler kildehenvisninger, og opplysningene i den kan dermed være vanskelige å verifisere. Kildeløst materiale kan bli fjernet. Helt uten kilder. (10. okt. 2015) |
Atomært kraftmikroskop (eng. atomic force microscope, AFM) er et meget kraftig mikroskop som ble funnet opp i 1982. Oppløsningen er så god at den kan avbilde enkeltatomer. I tillegg til å fungere som mikroskop kan det også brukes til å manipulere stoffer på nanonivå.
Mikroskopet fungerer ved at en liten tupp skraper i overflaten på stoffet. Kontaktkraften får tuppen til å bevege seg og denne bevegelsen blir registrert av en laser som reflekteres i overhenget tuppen er festet i.
Mikroskopets begrensning er at det bare kan studere overflater av forholdsvis faste stoffer.
Atomært kraftmikroskop er ett av en rekke skanning probemikroskoper, slik som skanning tunneleringsmikroskop og magnetisk kraftmikroskop.